扫描电子显微镜可以实现试样从低倍到高倍的定位分析

更新时间：2021-05-10

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　　扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。

　　扫描电子显微镜的结构的分析

　　在陶瓷的制备过程中，原始材料及其制品的显微形貌、孔隙大小、晶界和团聚程度等将决定其最后的性能。扫描电子显微镜可以清楚地反映和记录这些微观特征，是观察分析样品微观结构方便、易行的有效方法，样品无需制备，只需直接放入样品室内即可放大观察;

　　同时扫描电子显微镜可以实现试样从低倍到高倍的定位分析，在样品室中的试样不仅可以沿三维空间移动，还能够根据观察需要进行空间转动，以利于使用者对感兴趣的部位进行连续、系统的观察分析。

　　扫描电子显微镜拍出的图像真实、清晰，并富有立体感，在新型陶瓷材料的三维显微组织形态的观察研究方面获得了广泛地应用。

　　由于扫描电子显微镜可用多种物理信号对样品进行综合分析，并具有可以直接观察较大试样、放大倍数范围宽和景深大等特点，当陶瓷材料处于不同的外部条件和化学环境时，扫描电子显微镜在其微观结构分析研究方面同样显示出极大的优势。

　　主要表现为：

　　⑴力学加载下的微观动态 (裂纹扩展)研究 ;

　　⑵加热条件下的晶体合成、气化、聚合反应等研究 ;

　　⑶晶体生长机理、生长台阶、缺陷与位错的研究;

　　⑷成分的非均匀性、壳芯结构、包裹结构的研究;

　　⑸晶粒相成分在化学环境下差异性的研究等。