RoHS检测仪的分析原理：

　　ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。

　　波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：

　　nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)

　　式中 ，λ为分析谱线波长;d为晶体的晶格间距;θ为衍射角;n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特征信息。

　　能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：Q=kE

　　式中，K为入射射线的光子能量;Q为探测器产生的相应电荷量;k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。

　　RoHS检测仪目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪，又分为能量色散型和波长色散型，能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单，现市场上比较常见，其技术原理：

　　特征X射线 放射性同位素源或X射线发生器放出的X射线或Γ射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线-特征X射线。

　　元素含量与特征X射线强度的关系。

　　不同元素特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析;再根据特征X射线强度大小，可进行定量分析。

　　可用函数关系式表示为：C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)

　　式中：Kn(n=1,2,3…)表示第n号元素的待定系数，In(n=1,2,3…)表示第n号元素释放的特征X射线强度。由此可知只要通过标定确定系数Kn之后便可进行物质中元素的定量分析了。

　　RoHS检测仪优点

　　1.分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

　　2.非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。

　　3.X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著，波长变化用于化学位的测定。

　　4.X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

　　5.分析精密度高。制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

　　RoHS检测仪缺点

　　1.难于作分析，故定量分析需要标样。

　　2.对轻元素的灵敏度要低一些。容易受相互元素干扰和叠加峰影响。

　　RoHS检测仪价格相对其他一些分析仪器较高，所以很多客户选择租赁RoHS检测仪，如果您想了解RoHS检测仪租赁的价格，咨询!