产品名称：维修 更换 AMPTEK SDD检测器
产品型号：
更新时间：2025-12-17
产品特点：维修 更换 AMPTEK SDD检测器AMPTEK SDD 检测器即 AMPTEK 硅漂移探测器，是一种用于探测 X 射线的半导体探测器，广泛应用于能量色散型 X 射线荧光光谱仪（XRF）和 X 射线能谱仪（EDS）等设备中。
产品详细资料：
维修 更换 AMPTEK SDD检测器工作原理
SDD 探测器的主要结构是一块低掺杂的高阻硅，背面辐射入射处有一层很薄的异质突变结，正面异质掺杂电极设计成间隔很短的条纹。反转偏置场在电极间逐步增加，形成平行表面的电场分量。耗尽层电离辐射产生的电子受该电场力驱动，向极低电容的收集阳极 “漂移"，形成计数电流。
产品特点
高计数率：由于收集阳极的电容极低，相比通常的硅 PIN 器件，SDD 具有更短的上升时间，因而特别适合在高计数率的情况下工作，计数率可达 1,000,000 CPS 以上。
高能量分辨率：SDD 的阳极面积小于通常硅 PIN 器件，电容减小，在收集等量电荷的情况下具有更高的电压，提高了其能量分辨率。如 70 mm² 的 FAST SDD 探测器，在 5.9 keV 时能量分辨率可达 123 eV FWHM。
可在常温下工作：SDD 的电容和漏电流比一般探测器小两个数量级以上，通常把场效应管（FET）和珀尔帖效应器件整合到一起，常温下就能满足制冷需求，适用于便携式设备。
增益稳定性高：采用 CMOS 电荷灵敏前置放大器，增益稳定性 < 20 ppm/°C。
主要型号及参数
维修 更换 AMPTEK SDD检测器应用领域
超快速台式和手持式 XRF 分析仪：用于快速分析样品中的元素成分。
扫描电镜（SEM）中的 EDS 系统：作为 EDS 系统的一部分，用于扫描 / 绘制样品谱图，分析样品的元素分布。
在线流程控制：可实时监测生产流程中的元素变化，实现质量控制。
X 射线分拣机：根据元素成分对物品进行分拣。
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