岛津 EDX-7000 检测器  维修 更换工作原理

性能特点

• 高能量分辨率Amptek：例如其 25mm² 的 SDD 检测器，在 5.9keV 的 Mn Kα 线处能量分辨率可达 125eV FWHM。

• 高计数率Amptek：FAST SDD® 系列能够达到超过 1,000,000 cps 的计数率，可在高计数率下保持良好的分辨率。

• 高峰背比Amptek：具有较高的峰背比，如标准 SDD 检测器峰背比可达 20,000:1，能更清晰地分辨出特征峰。

• 宽检测范围Amptek：可检测从低能到高能的 X 射线，能检测到低至 Be Kα 线（110eV）的 X 射线。

• 小型化与低功耗：采用电制冷方式，无需液氮，体积小、功耗低，适用于实验室和便携式设备。

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产品系列

• 标准 SDD 检测器Amptek：通常具有 25mm² 的有效面积，500μm 的厚度，采用 TO-8 封装，配备 0.3 或 0.5mil 的薄铍窗，有两级热电制冷器，制冷温差 ΔT>85K。

• FAST SDD® 检测器Amptek：是 Amptek 的高性能系列，在 TO-8 封装内采用了互补金属氧化物半导体（CMOS）前置放大器，取代了传统的结型场效应晶体管（JFET），进一步降低了电容和噪声，在极短的峰值时间内仍能提供出色的分辨率，计数率可超过 1,000,000 cps。

• X-123 Fast SDD：属于紧凑型 X 射线能谱仪系列，集成了高性能数字脉冲处理器，有效面积有 25mm² 或 50mm² 可选，适用于快速 XRF 分析和元素成分检测等场景。

岛津 EDX-7000 检测器  维修 更换应用领域

• X 射线荧光分析（XRF）Amptek：用于合金分析、贵金属检测、RoHS/WEEE 指令相关的有害物质检测等。

• 能量色散 X 射线光谱分析（EDS）：常作为扫描电子显微镜（SEM）的附件，用于材料的元素成分分析和 mapping，在材料科学、半导体研究等领域应用广泛。

• 其他领域：还可应用于环境监测、安全筛查、太空探测、教学和研究、过程控制等领域。