维修岛津EDX-7000/8000--SDD检测器FAST SDD代表Amptek高性能的硅漂移检测器（SDD），能够在保持分辨率的同时，计数率超过1000000 CPS（每秒计数）。FAST SDD还可与C系列（Si3N4）低能窗一起使用，用于软x射线分析。

与传统SDD不同，FAST SDD在密封的TO-8封装内使用结栅场效应晶体管（JFET）和外部前置放大器，在TO-8封装内部使用互补的金属氧化物半导体（CMOS）前置放大器，并用金属氧化物半导体场效应管（MOSFET）代替JFET。这降低了电容，提供了更低的串联噪声，并在极短的峰值时间内提高了分辨率。FAST SDD使用相同的检测器，但前置放大器在短峰值时间内提供较低的噪声。改进的（较低的）分辨率能够隔离/分离具有接近能量值的荧光X射线，否则峰值将重叠，从而允许用户更好地识别其样品中的所有元素。峰值时间短也会提高计数率；更多的计数提供更好的统计数据。

维修岛津EDX-7000/8000--SDD检测器特点有：

1. 高计数率。由于收集阳极的电容极低，相比通常的硅PIN器件，SDD具有更短的上升时间，因而特别适合在高计数率的情况下工作。

2. 高能量分辨率。SDD的阳极面积小于通常硅PIN器件，由于电容的减小，在收集等量电荷的情况下具有更高的电压，提高了其能量分辨率。

3. 可在常温下工作。SDD的电容和漏电流要比一般探测器小两个数量级以上，通常把场效应管（FET）和Peltier效应器件都整合到一起，这样仪器在常温下就能满足SDD的制冷需求，特别适用于便携式设备的现场使用。

根据国家地质实验测试中心的报告，SDD探测器从1962年以Si探测器问世以来，Si-PIN、高纯及四叶花瓣型Ge探测器、Si漂移、SDD等不同性能的探测器， SDD探测器在计算数与制造工艺的稳定性方面取得突破，从而替代复杂的波长色散X射线光谱仪的Si-pIN探测器。