维修 AMPTEK硅漂移探测器FAST SDD：性能特点：

• 25 mm2的活动面积校准为17 mm2

• 也可提供70 mm2准直至50 mm2

• 9 keV时的122 eV FWHM分辨率

• 计数率>1000000 CPS

• 高峰值与背景比–26000/1

• 前置放大器输出上升时间<35 ns

• 窗口：Be（5密耳）12.5µm，或C系列（Si3N4）

• 抗辐射

• 探测器厚度500µm

• TO-8包装

• 冷却ΔT>85 K

• 多层准直器

技术参数：

• 探测器类型：带CMOS前置放大器的硅漂移检测器（SDD）

• 探测器尺寸：25 mm2-校准至17 mm2，也可提供70mm2-准直至50mm2

• 硅厚度：500µm或1000um可用

• 准直器内部：多层准直器（ML）

• 4µs峰值时间下5.9 keV（55Fe）：122-129 eV FWHM时的能量分辨率（保证）

• 峰值与背景：20000:1（计数比从5.9 keV到1 keV）（典型）

• 探测器窗口选项：铍（Be）：0.5密耳（12.5µm）或0.3密耳（8µm），C系列（Si3N4）低能耗窗户

• 电荷敏感型前置放大器：CMOS

• 增益稳定性：<20 ppm/°C（典型）

• 总功率：<2瓦

• 设备寿命：通常为5至10年，具体取决于使用情况

• 操作条件：-35°C至+80°C

• 长期储存：在干燥环境中储存10年以上

• 典型储存和运输：-40°C至+85°C，湿度10至90%，不凝结

• 产地：美国

-尺寸

• 探测器模块：TO-8封装（0.640英寸高，包括销，0.600英寸直径）

• XR100盒：3.00 x 1.75 x 1.13英寸（7.6 x 4.4 x 2.9厘米）

• X-123箱：3.94 x 2.67 x 1.0英寸（10.0 x 6.78 x 2.54厘米）

• 原始设备制造商：配置各不相同

-重量

• 探测器模块：0.14箱（4.1克）

• XR100盒：4.4盎司（125克）

• X-123箱：6.3盎司（180克）

• 原始设备制造商：配置各不相同

维修 AMPTEK硅漂移探测器FAST SDD下图显示使用标准0.5mmFASTSDD和新的1.0mmFASTSDD测试多元素样品谱图。15keV以上能量，更厚的探头能量响应效率更高，10keV以下所有的能量效率和分辨率相同。