二手 日立  S-3400N 扫描电镜 技术优势：高分辨率与智能分析的结合

日立 S-3400N 搭载3.0 nm 高真空分辨率和4.0 nm 低真空分辨率的电子光学系统，可清晰观察 0201mm 焊盘至 300,000 倍放大的微观结构，精准识别材料表面裂纹、成分分布不均等缺陷。其独特的低真空模式支持直接观察非导电样品（如生物组织、粉末材料），无需复杂镀膜处理，显著提升检测效率。设备集成的Horiba X-ACT 能谱仪支持点、线、面元素分析（Be~Am），分辨率达 127eV（Mn Ka），可快速检测样品表面至 1μm 深度的元素分布，为材料研发提供全面数据支撑。

行业应用：覆盖多领域的微观分析利器

日立 S-3400N 广泛应用于材料科学、半导体、生命科学等领域，尤其在复杂样品检测中表现突出：

半导体制造：通过高分辨率成像和能谱分析，精准检测芯片封装缺陷（如 BGA 焊点空洞），助力提升集成电路良率。

新能源材料：观察锂电池电极材料的微观结构（如硅基负极颗粒分布），优化电池性能与循环寿命。

生物医学：低真空模式下直接观察细胞表面形态和药物载体分布，为药物研发提供直观数据。

工业检测：结合自动导航系统，实现汽车零部件（如涡轮叶片）的快速缺陷筛查，降低人工检测成本。

二手 日立  S-3400N 扫描电镜主要技术指标：

5、成像模式：二次电子像，背散射电子像（成分像、形貌像和三维像）。

主要功能

扫描电子显微镜(SEM)是一种电子显微镜，它通过用聚焦电子束扫描表面来产生样品的图像，即电子与样品中的原子相互作用，产生包含样品表面形貌和成分信息的各种信号。主要用于表面形貌观察、显微结构、纳米尺寸分析。仪器与能谱仪（EDS）组合，主要用于元素的定性和定量分析，并可分析样品微区的化学成分等信息。