二手钨灯丝电镜 二手场发射电镜扫描型电子显微镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM）是一种利用聚焦电子束扫描样品表面，通过探测电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等信号，来获取样品表面微观形貌、成分及结构信息的高分辨率分析仪器。

二手 Hitachi SU8220 冷场发射电镜 系列中端冷场发射电镜，同系列还有 SU8230、SU8240，后续迭代型号为 Regulus8220；核心革新是改良型冷场电子枪，解决传统冷场束流弱、不稳定、频繁闪光的痛点，兼顾超高分辨成像 + 长时间 EDS 元素分析，是纳米、半导体、软材料领域主流机型.

S-3400N 日立 二手 扫描电镜型扫描电子显微镜采用TMP分子泵真空系统，节省占地面积和电源功耗。主要用于对材料的微观形貌、组织和成分进行有效分析。

二手 SEM 赛默飞 Quattro S 扫描电子显微镜扫描电镜结合了高分辨率成像、多种探测器选项和独特的环境模式（ESEM），可在自然状态下对多样化的样品进行研究。其场发射枪（FEG）确保了优异的分辨率，同时通过不同探测器选项提供多种衬度信息。Quattro具备高真空、低真空和ESEM三种模式，适用于广泛的样品类型，包括不导电和潮湿样品。

二手 日立 SU-8220 冷场发射电镜冷场发射高分辨扫描电子显微镜配备新型场发射电子枪，使电子束束流更大、更稳定，具有超高分辨率能力，低加速电压下（1kV）二次电子分辨率可达1.1nm。 配备Bruker FlatQuad型平插式X射线能谱仪，可对样品进行高分辨元素分析。应用于生物、化学等纳米尺度材料的结构和成分分析。

二手JEOL 场发射电镜 SEM+EDX+EBSD的主要特点有：应用了浸没式肖特基电子枪技术的电学系统；利用GB（Gentle Beam 模式）和各种检测器在低加速电压下能高分辨观察和选择信号的TTLS系统（Through-The-Lens System）；电叠加的混合式物镜。