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(2)手日本电子JSM-7610Fplus(SEM测试,日本电子JSM-7610FPlus)适用于多种样品的观察和分析。实现了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的进一步提升,以崭新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统,提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察。
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二手日立+日本电子扫描电镜扫描电子显微镜SEM是一种电子显微镜,它通过用聚焦电子束扫描表面来产生样品的图像。电子与样品中的原子相互作用,产生包含样品表面形貌和成分信息的各种信号。电子束的扫描路径形如光栅,将电子束的位置与检测信号的强度相结合即可输出图像。在最常见的SEM模式下,探测器可以检测到由电子束轰击原子所激发的二次电子。不考虑其它因素,可以检测到的二次电子数以及信号强度取决于样品形貌。
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二手日立电镜SU-3500日立高新高画质的钨灯丝扫描电镜SU3500, 图象质量更进一步。通过高画质提升扫描电镜的分析能力和操作性, 凝聚日立*进科技“。日立高新钨灯丝扫描电镜SU3500具有实现了3kV加速电压7nm分辨率”的全新电子光学系统, 可实现实时立体成像的“实时立体观察功能 以及更高检测效率的 “UVD超高灵敏度可变压力检测器。
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二手日本电子JSM-IT200是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。 使用初学者易懂的样品交换导航,可以轻松地从样品台搜索视野并开始观察SEM图像。Zeromag能像光镜一样直观地搜索视野,Live Analysis*²可以不用特意分析就能实时获取元素分析结果,SMILE VIEWTM Lab能综合编辑观察和分析报告等,使它成为一个分析业务的软件。
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二手电镜,二手场发射电镜它*进的特点和性能可以快速又简便地适应各种应用。通用的Windows界面通过显示器上显示的菜单和图标允许进行交互式的操作。应用在材料,结构,表面形貌分析:
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二手JEOL场发射电镜7001F热场发射扫描电子显微镜,是能够满足与高分辨率和易用性同样的分析应用需求的理想平台。JSM-7001F具有大型、5轴、全对中马达驱动自动化样品台,还有单动作样品更换气锁、它的小束口压直径,即使在大电流和低电压时,也具有适用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想结构的扩充性。样品室可处理直径最大为 200mm的样品。
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日本电子二手扫描电镜JSM分析型扫描电子显微镜,与日本电子公司的元素分析仪(EDS),统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制,操作员只用一只鼠标,就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。
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二手SEM日立TM3030plus日立台式电镜TM3030Plus,是日立台式电镜TM系列的成员,它继承了日立台式电镜的品质。TM3030Plus在TM3030基础上增加高灵敏度低真空二次电子探头UVD,该探头在低真空环境下具有很好的成像质量,而且无需样品前处理.
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