产品名称：二手 日立 SU-8220 冷场发射电镜
产品型号：
更新时间：2026-05-22
产品特点：二手 日立 SU-8220 冷场发射电镜冷场发射高分辨扫描电子显微镜配备新型场发射电子枪，使电子束束流更大、更稳定，具有超高分辨率能力，低加速电压下（1kV）二次电子分辨率可达1.1nm。 配备Bruker FlatQuad型平插式X射线能谱仪，可对样品进行高分辨元素分析。应用于生物、化学等纳米尺度材料的结构和成分分析。
产品详细资料：
二手 日立 SU-8220 冷场发射电镜：介绍
SU8200 系列（SU8220，SU8230，SU8240）冷场扫描电镜采用新设计的冷场发射电子枪，其不仅秉承以往冷场发射扫描电镜全部优点，还大幅提高了探针电流，并大大增强了电流的稳定性。这些优点使得在低加速电压下，可长时间连续实现高分辨观察和分析功能。
样品:介孔二氧化硅纳 米球；着陆电压：500 V
样品：高岭土；着陆电压：50V
样品：Au/Cu2O 核-壳纳 米立方体；EDX图谱条件：5 kV, 0.7 nA, 15 min, 150,000×
在材料科学、半导体研发及纳米技术领域，对微观结构的精准观测是推动技术突破的关键。场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）作为高分辨率成像的核心工具，能够捕捉纳米级细节，为材料成分分析、缺陷检测及表面形貌研究提供可靠数据。日立SU8200系列（含SU8220、SU8230、SU8240型号）凭借其冷场发射电子枪与高精度控制系统，成为实验室及工业场景中常用的分析仪器。
一、技术原理与核心组成：
场发射扫描电镜通过电子枪发射高能电子束，经电磁透镜聚焦后扫描样品表面。电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等信号被探测器收集，最终形成高分辨率图像。SU8200系列采用冷场发射电子枪，其曲率半径极小（约100纳米），可在低电压下产生高亮度电子束，配合0.01～20 kV的着陆电压调节范围，既可减少对敏感样品的损伤，又能优化成像对比度。电子光学系统与五轴马达驱动样品台（移动范围1.5～30毫米）协同工作，实现微米级定位精度，满足复杂样品的多角度观测需求。
二、性能参数与成像优势：
该系列电镜的电子分辨率达0.6纳米（30 kV电压下），放大倍率覆盖20至2,000,000倍，可清晰呈现从微米级颗粒到原子级晶格的结构特征。冷场发射电子枪的稳定性优于热场发射类型，能量分散度更低，使得图像信噪比显著提升，尤其适合观察低原子序数材料（如有机聚合物、生物样本）的表面细节。此外，5轴样品台支持倾斜、旋转及平移操作，配合低真空模式（可选配），可减少非导电样品的充电效应，扩展了金属、陶瓷、地质样品等硬质材料的观测范围。
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