产品简介
二手钨灯丝电镜 二手场发射电镜扫描型电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种利用聚焦电子束扫描样品表面,通过探测电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等信号,来获取样品表面微观形貌、成分及结构信息的高分辨率分析仪器。
产品分类
二手钨灯丝电镜 二手场发射电镜扫描电子显微镜(SEM)是一种复杂的分析仪器,其产品设计围绕高分辨率成像和微区分析的核心功能展开,主要由电子光学系统、信号探测处理和显示系统、真空系统、冷却循环水系统、电源供给系统等组成。其中,电子光学系统、信号探测处理系统和真空系统是其三个最为核心的子系统 [14]。


电子源:钨针尖冷场,能量扩展 ΔE≈0.2–0.3eV,束斑极小、低压成像
缺点:真空要求,二手机需定期做针尖闪光;灯丝损耗更快
二次电子 SE 分辨率
S-4800:1.0 nm @15kV;2.0 nm @1kV
Regulus8100:0.7 nm @15kV;0.8 nm @1kV(新一代冷场)
S-4300:1.5 nm @30kV;5.0 nm @1kV(老款冷场)
加速电压:0.5–30kV,0.1kV 精细步进
放大倍率:20× ~ 80 万–500 万倍
探针束流:1pA ~ 2nA(束流偏小,适合形貌,做 EDS 定量偏弱)
真空指标(二手验收关键)
电子枪腔真空:<1×10⁻⁷ Pa
样品室高真空:<1×10⁻⁴ Pa
样品台(通用 5 轴优中心)
X:0–100mm / Y:0–50mm / Z:5–35mm;倾斜 - 5°~+60°,360° 旋转
ZrO/W 肖特基,ΔE≈0.7–1eV,束流大、稳定性好、维护简单,适合 EDS/EBSD 分析
低压分辨率弱于冷场,但大束流下分辨率衰减小
SE 分辨率:0.9nm@30kV;2.5nm@1kV,减速模式 1.6nm@1kVHitachi Hi...
加速电压:0.5–30kV,减速着陆电压 0.1–2kV
最大束流:150nA(EDS、EBSD 定量)
倍率:5× ~ 60 万倍,大屏显示最高 100 万倍
可选低真空 VP 模式(10–300Pa,直接测绝缘样品)
分辨率:1.0nm@20kV;2.1nm@1kV;5nm@0.2kV;VP 模式 2nm@30kV
加速电压:0.1–30kV
探针电流:4pA ~ 10–20nA
超大样品仓 φ330×270mm;5 轴台 X/Y=130mm,倾斜 - 3°~70°,360° 连续旋转
分辨率:2nm@15kV;3nm@1kV
高压:20V–30kV;束流 5pA–20nA
分辨率:2nm@30kV 高真空;3.5nm@3kV 低真空
支持高真空 / 低真空 / 环境真空三模式,含水生物、多孔样品免喷金
标配 STEM 模式,STEM 分辨率 1.5nm@30kV

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