二手 日本电子 IT-500扫描电镜JSM-IT500扫描电子显微镜

性能介绍

■ 利用 Zeromag 进行快速导航

■ Live Analysis在图像观察过程中进行实时分析

■ SMILE VIEW LAB 能综合管理 SEM 图像 & EDS 分析数据

■ 安全、简便 的样品交换导航

日常分析更迅速！更简便 !

从安装样品到生成报告，实时分析软件使分析过程无缝连贯，作业速度更快，操作更加简便。

■ Zeromag

从样品架示意图或者CCD图像上寻找视野和分析位置。

可以快速地寻找视野 , 简便地预约多个视野连续分析的位置。

■ Live Analysis （ 实时分析）

观察过程中的 EDS 分析

在观察过程中可以随时实时显示分析区域内的特征 X 射线谱图、自动定性分析结果和主要构成元素。

还可以标记“Alert"到感兴趣的元素上。

■ 数据集中管理软件 SMILE VIEWTM Lab

通过数据管理图标或获取的数据一览，显示数据管理画面后，可以重新查看或再次分析数据，还可以一键生成报告。

利用用户日志也可以分别管理数据。由于数据相互联动，进行重构也很简单。

二手 日本电子 IT-500扫描电镜  是一款扫描电镜，它只需很少的步骤就能获取高倍率图像。

● 二次电子图像

利用高真空二次电子像观察铁锈的表面，在高倍率下可以观察到细微的表面形貌。

● 背散射电子图像

下图是硬质合金截面的背散射电子成分像，在低电压的背散射电子模式下可以观察每个碳化钨颗粒的晶体取向（通道衬度）差异。

● 选择扫描系统可获取画质更好的低加速电压图像

可以选择快速帧累积的扫描系统来减少样品的放电现像。因此 ,即使在低加速电压下观察容易荷电或易受电子束损伤的样品，也能容易地获取高倍率图像。

低真空模式

在物镜附近进行差动抽气显著提高了低真空模式下的图像质量。此外，低真空模式的最大压力可高达 650 Pa, 进一步扩大了应用范围。

超低真空图像

含有大量水分的软样品会因为样品室内的压力而无法保持原有的结构。从前对这样的样品不进行特殊处理就无法观察。当低真空压力范围扩展到 650 Pa 时，即使没有特殊处理也可以在对样品损伤很小的情况下进行观察。

SEM 观察界面

在 SEM 观察界面上可以确认到正在观察的谱图和主要元素。

各个分析区域都与对应的样品台坐标关联，并且显示在样品架示意图上或者 CCD 图像 上。

● EDS

X 射线能谱仪 (EDS) 是安装在扫描电镜 (SEM) 的附件，通过检测电子束照射时样品产生的特征 X 射线，从而进行元素分析。

详细分析显示界面

切换到详细分析显示界面后可以进行谱图解析以及元素面分布分析等。

即使在分析期间，也可以从已经获取的数据中生成报告。