二手HITACHI-SU8010高分辨场发射扫描电镜场发射扫描电镜可用于材料分析和研究，特别是材料断口分析、微区成分分析、各种镀膜表面形貌分析、层厚测量和显微组织形貌及纳米材料分析等。

（2）手日本电子JSM-7610Fplus（SEM测试，日本电子JSM-7610FPlus）适用于多种样品的观察和分析。实现了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的进一步提升，以崭新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察。

二手sem+edx电镜扫描电子显微镜（SEM）是在各种科学和工业应用中用来以高分辨率检查样品表面的*工具。与传统光学显微镜不同，SEMs使用电子而不是光来产生图像。在SEM中，将聚焦的电子束扫描过样品表面，电子与样品之间的相互作用产生各种信号，被检测到并转换成图像。初级电子束对表面进行高精度扫描，以便对样品的地形和形态进行详细检查。SEM的主要优点之一是能够实现高分辨率成像。

二手蔡司场发射电镜：具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，*高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中**各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。

二手蔡司冷场电镜，二手热场场发射电镜SUPRA 40是一款高分辨率场发射扫描电子显微镜，拥有第三代GEMINI 镜筒，可变压强性能加上多种纳米工具的使用，不用花费大量时间，使高分辨率成像和非导体样本的分析成为可能，超大的样品室适合各种类型探头及配件的选择。该场发射电镜适用于材料领域、失效分析、过程控制，纳米技术等。

二手FEI+JEOL+HITACHI扫描电镜：扫描电镜（SEM）是利用电子束扫描样品表面，产生二次电子等信号，通过检测这些信号来获取样品表面形貌、成分等信息。SEM的优点是分辨率高，可观察到纳米级别的细节，景深大，能清晰呈现三维形貌，可同时进行成分分析。