二手JEOL 场发射电镜 SEM+EDX+EBSD的主要特点有：应用了浸没式肖特基电子枪技术的电学系统；利用GB（Gentle Beam 模式）和各种检测器在低加速电压下能高分辨观察和选择信号的TTLS系统（Through-The-Lens System）；电叠加的混合式物镜。

二手 JEOL JSM-7100F 场发射扫描电镜肖特基场发射扫描电镜采用通用性强的out-lens式物镜和High Power Optics（高性能电子光学系统），操作非常方便。基于用户友好的SEM可以和具有多种特性的附件组合，如低加速电压下高分辨率的观察和分析、异种信号的同时观察 （TTLS系统）、低真空模式（LV系统）下的观察和分析、用大视场观察和分析，可以满足每个用户的个性化需求。

二手JEOL JSM-7200F 场发射扫描电镜电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens System），因此无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。

二手日本电子 JSM-7900F 场发射电镜JEOL新一代FE-SEM旗舰机型。 它继承了上一代广获好评空间分辨率、高稳定性、多种功能等性能的同时，操作性能简单化。 该设备不依赖操作者的技能，始终能够发挥其最佳性能。

二手 日立 S-3400 扫描电镜 （SEM）拥有新开发的电光系统，具有更多的自动化功能，结合了自动轴功能，包括自动横梁设置、自动同轴轴。还具有3kV时低加速电压保证10nm分辨率、实时显示两幅图像、实时全屏图像等特点。高性能用于观察和分析材料的表面形貌和微结构。

二手 日立 S-3400N 扫描电镜 在材料科学、半导体研发和工业检测领域，高精度微观分析能力是推动技术突破的关键。日立 S-3400N 型扫描电子显微镜（SEM）凭借其成像性能和多功能分析能力，成为科研机构与企业的核心检测工具。作为行业的设备解决方案供应商,推出的日立 S-3400N 租售服务，以灵活的模式、专业的技术支持和全周期服务体系，为客户提供低成本、高可靠性的微观分析解决方.

二手JEOL IT-500HR场发射电镜属于扫描电子显微镜，归为 InTouchScope™系列，凭借高亮度电子枪与优化的透镜系统，兼顾高分辨率成像与高效元素分析能力，适配多领域样品观测与成分检测需求。

二手 日立CD-SEM 扫描电镜S-9380（临界尺寸扫描电子显微镜）设备在半导体制造和纳米材料研究领域具有广泛的应用

二手HITACHI S-4800扫描电子显微镜冷场发射电子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV连续可调电压精准适配各类样品，配合E×B技术实现SE/BSE信号自由切换，10mm2能谱仪可快速完成Be到U的全元素分析。

二手日立 SU-8230 冷场超高分辨扫描电镜主要功能及应用范围：微区形貌、微区成分分析。可以观察和检测非均相有机、无机材料，及这些材料在纳米、微米级样品的表面特征。该仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究及公安刑侦的物证分析。