二手 日立 SU-8010 冷场发射电镜用途

广泛应用于材料、生命科学、医学、物理、地矿、化工、化学、冶金、机械、制药等多个领域的微观尺寸测量、形貌表征和元素分布表征等检测。

3.送样要求

       3.1样品必须是固体（部分液体材料可视情况烘干后测量），且无毒、无放射性、不含有有机挥发物和水分；

       3.2样品需电化学性质稳定，在高真空电子束下，都能保持成分稳定和形态不变；

       3.3对于强磁性样品，一般不予测量。如有个别需求，需面议。

4.主要性能指标

       4.1 分辨率

       ≥1.0 nm（HV=1.5KV，WD=4mm）

       ≥1.3 nm（Vi=1KV，减速模式）

       4.2 EDS元素分析仪

扫描电镜的拓展仪器，可对绝大多数元素进行定性和半定量分析。可以选择点、线、面等多种分析模式，也可进行元素组成分布绘图。

       4.3 样品最大尺寸

≤100mm

       4.4 加速电压

       低0.1KV，最高30KV

       4.5放大倍数

       20倍-80万倍（底片模式）；80倍-800万倍（显示器模式）

       4.6 图像处理

测试时，可以自由选择SE或BSE电子像的组合，图片类型可存储为TIFF、BMP或JPEG格式。

性能指标：

分辨率：1.0nm (15 kV)； 1.4nm(1 kV, WD = 1.5mm, 减速模式)；2.0nm (1 kV, WD = 1.5mm, 普通模式）

放大倍数：30倍-800,000倍；电子枪：冷阴极场发射电子源 ;     加速电压:0.5-30kV (0.1KV/步，可变，普通模式)

样品台： X: 0-50mm Y: 0-50mm, Z:1.5-30mm, T: -5-70°,R:360°, 样品尺寸最大直径：100mm（标准）

信号选择：二次电子模式和背散射模式，X射线信号，辅助信号 

主要应用：

利用SU8010可进行：（1）形貌分析，通过形貌像可以对样品的形貌、粒径、分散性进行表征，可用于金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观察，同时还可对材料断口和失效进行分析（2）微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成。

二手 日立 SU-8010 冷场发射电镜售后服务保障

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4、不断完善的服务体系。每一次服务都能做到规范化，可跟踪及持续性，符合各行业的法规要求。

5、专业的服务团队，工程师均是原厂工程师或经原厂工程师专业培训过的，通过考核后方可上岗为客户提供服务。