产品名称:二手 日立 S-4700 冷场发射电镜SEM+EDX
产品型号:
更新时间:2025-03-14
产品特点:二手 日立 S-4700 冷场发射电镜SEM+EDX可以观察和检测非均相有机、无机材料,及这些材料在纳米、微米级样品的表面特征。该仪器广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究及公安刑侦的物证分析。能谱附件可对样品进行微区成分分析。
产品详细资料:
二手 日立 S-4700 冷场发射电镜SEM+EDX:主要技术指标:
一:加速电压:500V-30KV;高倍放大倍数:100-500000,低倍放大倍数:20-2000;二次电子图象分辨率在1KV时, S=2.1nm,15KV时,S=1.5nm ;15KV,S=2100 0,放大倍数20-500K ;X射线能谱元素分析范围Be-92U;谱线分辨率129.25e V
:二、主要参数:
1.电子枪:冷场发射型;
2.分辨率:≤1.5nm(15KV);
3.加速电压:0.5~30KV连续可调;
4.放大倍数:低倍模式,30~2000;高倍模式,250~500000;
5.样品要求:非磁性块体,尺寸要求直径≤3cm,高度≤1cm,导电性良好。
6.电子枪类型:冷场发射型
7加速电压:0.5~30kV,连续可调
分辨率:
在15kV时,二次电子图像分辨率为1.5nm12
在1kV时,二次电子图像分辨率为2.1nm12
放大倍数:
低倍模式(LOWMAG):30~2000倍34
高倍模式(HIGHMAG):250~500,000倍34
X射线能谱元素分析范围:Be-U9212
谱线分辨率:129.25eV12
主要功能及应用范围
日立S-4700场发射扫描电子显微镜可以观察和检测非均相有机、无机材料的表面特征,广泛应用于金属材料、高分子材料、半导体材料、化工原料、地矿物品、宝石文物等微观形貌的研究,以及公安刑侦的物证分析。该仪器还能对样品进行微区成分分析。
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二手 日立 S-4700 冷场发射电镜SEM+EDX售后服务保障
1、零配件库存充足,对业务所及的仪器90%常见的故障准备了库存配件,同时和厂家保持良好的合作的关系,零配件有充分的保障。
2、我们全力打造“快而灵活"的专业服务。到目前为止所有现场服务需求,我们都能够4小时内线上响应, 48小时内到达现场。
3、利用现代信息技术,我们为每一位客户提供互联网在线支持,远程快速诊断及排除故障,大大缩短仪器停机时间,提高客户的工作效率。对路途远及初期客户对仪器不熟悉是一个特别有力的支持。
4、不断完善的服务体系。每一次服务都能做到规范化,可跟踪及持续性,符合各行业的法规要求。
5、专业的服务团队,工程师均是原厂工程师或经原厂工程师专业培训过的,通过考核后方可上岗为客户提供服务。
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