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二手FEI-QUANTA 250扫描电镜扫描电镜观察样品表面的形貌,分析系统用聚焦电子束在样品表面逐点扫描成像,成像信号可以是二次电子,背散射电子或吸收电子。电子枪发射出的电流激发到样品表面产生二次电子,通过信号收集和信号转换到达屏幕,可以看到样品表面的同步扫描照片,实现对样品表面的形貌的观察。
更新时间:2024-10-15
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二手日本电子(SEM)IT-300提供高画质图像,能满足您对 W-SEM 机型的期待,镜筒设计和扫描系统使得不导电样品的图像质量有所提高
更新时间:2024-10-15
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二手蔡司场发射电镜SEM+EDX SUPRA25系列产品配备有经过改进的第三代GEMINI®镜筒、概念新颖的样品台、智能化硬件控制板和新型高效率的透镜内二次电子探测器。SUPRA™系列场发射扫描电子显微镜是卡尔蔡司半导体事业部的纳米技术系统部向市场推出的功能最多的场发射扫描电子显微镜。具有当前仪器所具有的所有特征:如在图像质量超高分辨率、工作电压切换方便、出色的束流稳定性、全分析型样品室。
更新时间:2024-09-05
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二手日立+日本电子扫描电镜扫描电子显微镜SEM是一种电子显微镜,它通过用聚焦电子束扫描表面来产生样品的图像。电子与样品中的原子相互作用,产生包含样品表面形貌和成分信息的各种信号。电子束的扫描路径形如光栅,将电子束的位置与检测信号的强度相结合即可输出图像。在最常见的SEM模式下,探测器可以检测到由电子束轰击原子所激发的二次电子。不考虑其它因素,可以检测到的二次电子数以及信号强度取决于样品形貌。
更新时间:2024-07-15
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二手SEM扫描电子显微镜SU3500所具备的新型的模拟图像和改进后的电子光学系统以及图像显示算法使之能够在低加速电压下获得更高的分辨率。3KV电压时,SE图像可达7nm,5KV电压时,BSE图像可达10nm。最新开发的自动多级电子枪偏压机构能够在不降低电子束大小的情况下,在一定范围内的常用加速电压下增加发射电流。因此,此款产品与S-3400N相比,噪音得以大幅减少,成像更加清晰。
更新时间:2026-06-05
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二手日立电镜SU-3500日立高新高画质的钨灯丝扫描电镜SU3500, 图象质量更进一步。通过高画质提升扫描电镜的分析能力和操作性, 凝聚日立*进科技“。日立高新钨灯丝扫描电镜SU3500具有实现了3kV加速电压7nm分辨率”的全新电子光学系统, 可实现实时立体成像的“实时立体观察功能 以及更高检测效率的 “UVD超高灵敏度可变压力检测器。
更新时间:2026-06-05
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