产品名称:二手 TA热分析仪 DSC/TGA/TMA/DMA/SDT
产品型号:
更新时间:2025-12-22
产品特点:二手 TA热分析仪 DSC/TGA/TMA/DMA/SDT美国 TA 仪器的热分析设备覆盖DSC、TGA、SDT、DMA、TMA、激光导热等核心技术,核心原理均围绕在程序控温 + 气氛控制下,测量材料随温度 / 时间的热、力学、质量等物理化学变化,以下为关键技术与原理要点。
产品详细资料:
二手 TA热分析仪 DSC/TGA/TMA/DMA/SDT TA Instruments(热分析领域核心厂商)的热分析仪器涵盖差示扫描量热仪 (DSC)、热重分析仪 (TGA)、动态热机械分析仪 (DMA)、热机械分析仪 (TMA) 等,不同型号核心技术参数差异显著,以下按仪器类型梳理关键技术参数框架(附主流型号参考),便于性能评估与选型:
一、核心热分析技术与原理
1. 差示扫描量热法 DSC
基本原理:在程序控温下,测量样品与惰性参比物的热流差 / 功率差随温度 / 时间变化,表征熔融、结晶、玻璃化、反应热等热事件。
TA 核心技术:
1:Tzero (T4P) 热流技术:通过测量传感器热阻与热容,以四项热流方程计算精确实时热流,基线更稳、无需额外基线扣除,单次运行可测热容。
2:调制 DSC (MDSC):在线性升温上叠加正弦温度振荡,分离可逆(热容)与不可逆(反应热)热流,解析重叠转变更精准。
3:典型应用:玻璃化温度 Tg、熔点 Tm、结晶度、反应焓、氧化诱导期 OIT。
2. 热重分析法 TGA
基本原理:程序控温 + 气氛控制下,用高精度微量天平测量样品质量变化 (Δm) 及速率 (dm/dt),反映分解、蒸发、氧化、吸附等过程。
TA 核心技术:
1:Modulated TGA(MTGA):叠加温度调制,分析分解动力学更高效,减少传统多升温速率实验的时间成本。
2:Hi-Res TGA:智能调整升温速率,精准捕捉台阶拐点,提升分辨率。
典型应用:热稳定性、组分含量(如填料、挥发分)、分解动力学、氧化稳定性。
3. 同步热分析 SDT (DSC-TGA 同步)
1:基本原理:同一炉体中同步测量热流 (DSC) 与质量 (TGA),可区分无失重的热转变(如熔融、Tg)与有失重的过程(如分解),温度范围可达室温~1500℃。
2:典型应用:聚合物降解、复合材料热行为、催化剂反应、含能材料热 - 质耦合分析。
4. 动态力学分析 DMA
基本原理:程序控温 + 气氛控制下,对样品施加正弦交变应力 / 应变,测量储能模量 E’、损耗模量 E"、损耗因子 tanδ 等,表征粘弹性、玻璃化、交联、蠕变 / 应力松弛。
TA 核心技术:多种夹具(三点弯、拉伸、剪切、压缩)适配不同样品形态,宽温域(-150℃~600℃)与宽频率覆盖。
典型应用:高分子材料 Tg/Tα、阻尼性能、固化动力学、力学稳定性。
5. 热机械分析 TMA
基本原理:程序控温 + 气氛控制下,施加恒定载荷,测量样品尺寸变化 (膨胀 / 收缩 / 软化),表征热膨胀系数 CTE、软化温度、烧结收缩等。
典型应用:CTE 匹配设计、玻璃化转变、熔点 / 软化点、薄膜 / 涂层热稳定性。
二、TA 仪器通用系统架构
三、核心技术对比速览
| 技术 | 测量信号 | 核心参数 | TA 关键优势 |
|---|---|---|---|
| DSC | 热流差 (dH/dt) | Tg, Tm, ΔH, Cp | Tzero, MDSC, 基线稳定 |
| TGA | 质量变化 (Δm) | Td, 组分含量,dm/dt | MTGA, Hi-Res, 天平精度 |
| SDT | 热流 + 质量 | 热 - 质耦合事件 | 同步测量,区分失重 / 非失重 |
| DMA | 模量 (E’, E"), tanδ | Tg, 阻尼,固化度 | 多夹具,宽频宽温 |
| TMA | 尺寸变化 (ΔL) | CTE, 软化温度 | 微力控制,变形精准 |
| 激光导热 | 热扩散系数 α | λ, α, Cp | 宽温域,快速测量 |
四、总结



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