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产品简介
7850 ICP-MS 二手 安捷伦避免 ICP-MS 分析中常见的时间陷阱。这一智能方法可减少时间浪费，让忙碌的工作人员可以专注于更有价值的工作。7850 ICP-MS 是一款能够处理固体含量高达 25% 的样品的 ICP 质谱仪，可减少费时的稀释步骤。这款仪器具有氦模式碰撞池和半质量校正功能，可避免多原子和双电荷离子干扰，使方法开发更简单，并解决了导致费时的样品重新测量的常见问题。
产品分类
7850 ICP-MS 二手 安捷伦特性：
1:标准操作规程以及用于法规和常规分析的全面开发的方法，可为您节省数周的方法开发和文档编制时间。
2:超高基质进样系统 (UHMI) 可在不稀释的情况下直接分析总溶解态固体含量高达 25% 的样品，从而减少样品前处理时间。
3:氦气碰撞池和半质量校正可消除棘手的多原子和双电荷离子干扰，避免降低数据质量，同时可减少高成本的样品重新测量需求。
4:可靠的硬件使您无需基质匹配的校准标样即可测定高基质样品。
5:IntelliQuant 可提供每个样品的完整元素谱，帮助您轻松识别异常样品基质。
6:异常值条件格式 (OCF) 可突出显示超出范围或不满足测试要求的结果，从而减少工作繁忙或经验不足的 ICP-MS 操作人员审查数据的时间。
7:早期维护反馈 (EMF) 功能采用传感器和计数器确定系统何时需要维护。交通信号灯式颜色预警确保您不会错过任何维护任务，但也不会过于频繁地进行维护。
8:ICP Go 是一款用于移动设备的基于浏览器的可选用户界面，能够简化常规样品批次的设置和控制，非常适合来回奔走的 ICP-MS 操作人员。
9:针对特定方法的分析仪套装包含 ICP-MS 硬件、软件、消耗品、专业服务和文档，确保您能在数周内开始运行样品，无需耗费数月时间进行法规方法开发、优化、验证和文档编制。
高基质样品会引起信号漂移并抑制等离子体，导致结果不准确，需要重复分析。7850 的超高基质进样系统使用氩气流稀释样品。无需耗时且容易出错的手动稀释即可对基质中 TDS 高达 25% 的样品进行分析。
同时，7850 的氦气碰撞池和半质量校正可自动消除多原子和双电荷离子干扰。这些功能不仅能简化方法开发，还能避免导致测量失败的常见问题。
利用 IntelliQuant 深入了解样品
特殊的样品基质可能会造成意想不到的问题。了解样品组成可以避免许多问题以及成本高昂的样品重复测量。IntelliQuant 软件功能使用全扫描质谱图对每个样品进行全面成分分析。结果以热图的形式显示，使您可以快速识别意外或异常高水平的元素以及样品前处理错误。此信息有助于确认稀释倍数和校准范围，并识别可能对内标元素造成影响的基质效应。
维护不足会影响仪器性能，导致计划外停机，浪费宝贵的时间。但过于频繁地维护也会浪费时间，增加消耗品成本，并且不会带来任何实际效益。早期维护反馈使用传感器和计数器，根据仪器使用情况确定何时需要维护。交通信号灯式颜色预警确保您不会错过任何维护任务，但也不会过于频繁地进行维护。得到理想维护的 ICP-MS 可提供更出色的性能，为实验室节省时间和资金。
质量范围：2‑260 amu
四极杆频率：3 MHz
分辨率：单位质量分辨，0.7±0.1 amu（10% 峰高），可调范围 0.2‑1.0 amu
丰度灵敏度：低质量端 ≤5×10⁻⁷；高质量端 ≤1×10⁻⁷
扫描速率：
扫描速率：3000 amu/s
最大跳转速率：56.6×10⁶ amu/s
质量轴精度：±0.05 amu
⁷Li ≥80 Mcps/(mg/L)
⁸⁹Y ≥240 Mcps/(mg/L)
²³⁸U ≥300 Mcps/(mg/L)
表格
| 元素 | 检出限 |
|---|---|
| ⁹Be | ≤0.5 ppt |
| ¹¹⁵In | ≤0.1 ppt |
| ²⁰⁹Bi | ≤0.1 ppt |
| ⁷⁵As（He 模式） | ≤20 ppt |
| ⁷⁸Se（He 模式） | ≤40 ppt |
氧化物比 CeO⁺/Ce⁺：≤1.5 %
双电荷 Ce²⁺/Ce⁺：≤1.0 %
离子导向：八级杆
标配：He 碰撞模式（KED 动能歧视）
可选扩展：第 2、第 3 路反应气（H₂、NH₃、Xe 等），气体切换约 5 s
软件内置半质量校正，校正双电荷干扰
RF 发生器：500‑1600 W，常规工作 1550 W
标配 UHMI 超高基质进样：可直接分析 TDS 最高 25% 样品（气溶胶稀释，无需手动稀释）
雾化室：Scott 双通道，控温 2 ℃
标配 MicroMist 玻璃同心雾化器；采样锥 / 截取锥：镍锥
线性动态范围：10 个数量级，高低含量元素一次测定
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