二手PE ICP光谱仪 ICP-8300DV基于可靠的 Optima 平台设计，在业界的 Windows 7 兼容 WinLab32 软件的控制下，8000 将令您对 ICP-OES 刮目相看。 该系列的超凡性能是通过优化进样系统、增强等离子稳定性、简化方法建立和大大降低操作成本的实现的。

各个实验室对利用 ICP 的定义均大不相同。但是，无论您优先考虑的是精密度还是可靠性、是灵活性还是稳定性、是分析速度还是使用的简便性，您都可以在 Optima 8300系列中找到理想的解决方案。

使用平板等离子体技术降低氩气消耗

利用 PerkinElmer平板等离子体技术，氩气消耗只有螺旋负载线圈系统的一半，即可形成同样强健、同样耐高盐基体的等离子体。这种全新的射频发生方式，可使射频发生器免维护，从而上降低操作成本，同时不影响性能。平板等离子体技术在任意RF功率下只需 8 公升/分钟的等离子体气流量。
 

使用 eNeb 样品导入系统可实现 2 到 4 倍的更佳检出限

使用革新的 eNeb（电子喷雾器）系统，样品可地更有效、更高效地导入 Optima 中。基于精密制造的惰性喷雾头，eNeb 可形成直径不超过 6 微米的大小一致的液滴。这些大小一致的小液滴可更快速干燥、雾化和电离，达到的检出限比使用其他样品导入系统可达到的检出限好 2 到 4 倍。

eNeb 的喷雾头采用坚固耐用的惰性聚合物制成，提供良好的基体相容性、耐酸性和精确性，是所有样品类型（包括含有高盐的样品类型）的理想选择。

高级光学系统确保的检出限

为了增强光输出量，Optima 仪器上的光学系统提供的检测限，更容易满足美国 EPA、EN 和 DIN 规定。使用热稳定光学系统（型号 8300）可确保非凡稳定性和分析准确性。

等离子双向观测提高效率

可以使用同一种方法测量高浓度和低浓度的元素，从而提高处理量和效率。

轴向观测提供检出限，而径向观测的观测高度可变，可扩充工作范围和消除电离效应。

切割气消除了干扰

这项革新技术通过消除离子的冷尾焰消除了干扰。由于它使用的是空气，而不是气体流量极大的抽风系统或者易于阻塞需要清洗的接口锥，尾焰切割系统免维护，可提高性能并使线性动态范围更大。消除尾焰也从上降低了添加昂贵的电离抑制剂的需要。
 

可快速更换的可调节一体化炬管组件可简化维护并优化性能

Optima 一体化炬管组件易于调节（无需工具），即使当 ICP 在运行时也如此，便于优化性能，甚至是对于最难的样品亦如此。为增加灵活性，该仪器与各种喷雾器和喷雾室兼容，包括 eNeb、Scott/Cross Flow 和 Cyclonic/

Meinhard™ 多种选择。

两个高性能 SCD（谱线分隔式电荷耦合器件）检测器增强准确性

Optima 8300 上的检测器可在整个波长范围内提供分辨率和性能（一个检测器用于 UV，另一个检测器用于 Vis），从而降低干扰和增强准确性。

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     二手PE ICP光谱仪 ICP-8300DV平板等离子体技术

   RF 发生器采用免维护的等离子体感应板，替代传统的螺旋负载线圈。无需冷却，氩耗降低，操作成本大大降低。

  PlasmaCam 观测相机

         通过提供连续等离子观测，该彩色内置相机简化方法建立过程，使远程诊断功能成为可能，以zei大程度增加正常运行时间。 非常适用于有关食品/产品安全和地球化学的高输出合约实验室。